荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。
中文名
荧光光谱仪
激发光源
Xe450W
激发单色仪
4nm/mm,200nm～700nm
光谱测量范围
240nm～850nm
由光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成。
荧光光谱仪可分为X射线荧光光谱仪和分子荧光光谱仪。
1.荧光激发光谱和荧光发射光谱
2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱
3.3D（ExEmIntensity)
4.TimeBase和CWA(固定波长单点测量）
5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨
6.计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32)
仪器类别：03030429/仪器仪表/成份分析仪器/X荧光谱仪
指标信息：
激发光源Xe450W
激发单色仪：4nm/mm,200nm～700nm
发射单色仪：双色单仪，2nm/mm,300～1000nm
光谱测量范围：240nm～850nm
灵敏度：水喇曼信噪比4000：1（397nm/5nmbandpass)
寿命响应范围：10ps～10μs
新型型号
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
0303040903/仪器仪表/成份分析仪器/荧光光度计
1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度
