提醒:代购产品,无质量问题不接受退换货,下单前请仔细核对信息。下单后请及时联系客服 核对商品价格,订单生效后再付款。
nanoandmore/160AC-NA/160AC-NA-24/Box of 24 AFM Probes
价格:

自营商城

解放采购

正品保障

及时交付

厂家直采

一站服务

货号:
品牌:
会员服务:
尊享会员价
贵宾专线
运费优惠
闪电退款
福利优惠
上门换新
友情提示
以上价格仅为参考,请联系客服询价。
免费咨询热线
4000-520-616
产品说明
Cantilever: F: 300 kHz C: 26 N/m L: 160 µmApplications: Non-Contact / Standard Tapping Mode AFM ProbesDescription: The 160AC series is designed for standard AC mode AFM imaging in air or vacuum. The uncoated tip offers a sharp tip apex and chemical inertness. The back side aluminum coating significantly enhances the cantilever reflectivity. The tetrahedral tip is located precisely at the free end of the cantilever. This allows the tip to be positioned accurately over the area of interest on the sample surface. 30 nm Al on the back side of the cantilever AFM Tip: shape: OPUS height: 14 µm (12 - 16 µm)* radius: < 7=""> half cone angle: 0° front, 35° back, <9° side AFM Cantilever: shape: Beam length: 160 µm (150 - 170 µm)* width: 40 µm (38 - 42 µm)* thickness: 4 µm (3.5 - 4.5 µm)* force constant: 26 N/m (8 - 57 N/m)* resonance frequency: 300 kHz (200 - 400 kHz)* * typical range This product features alignment grooves on the back side of the holder chip.

AFM 探针规格范围

在 NanoAndMore 投资组合中

  • 1原子力显微镜提示

    • 曲率半径: 1 - 20000 纳米

    • 高度: 2 - 50 微米

  • 2 AFM 悬臂

    • 共振频率: 6 - 5000 kHz

    • 力常数: 0.01 - 2000 牛/米

    • 长度: 7 - 500 微米

    • 宽度: 0.8 - 120 微米

    • 厚度: 0.08 - 7 µm

  • 3支撑芯片(搬运)

    • 方面: 1.6 毫米 x 3.4 毫米

* 上述属性范围以及 AFM 探针指南包括 NANOSENSORS™ 特殊开发列表 AFM 探针,这些 AFM 探针可能未列在 NanoAndMore 上的常规 AFM 探针范围内。如果您无法通过搜索字段找到您正在寻找的 AFM 探针,请与我们联系 - 我们将很乐意为您提供帮助!